RIEGL VZ-400i

Высокоскоростной наземный лазерный сканер

Революционные изменения стандартов наземного лазерного сканирования

В этой модели разработчикам удалось совместить ранее несовместимые характеристики: скорость сканирования и точность съемки, характерные ранее только для фазовых сканеров, с большим радиусом действия, характерным для импульсных сканеров.

Прорыв в производительности! Общая производительность выросла в 32 раза по сравнению с предшественником.

Работа при любых
погодных условиях

Качественные данные даже при неблагоприятных погодных условиях: снег, дождь, туман и т.п.

Расширенный диапазон рабочих температур позволяет работать в зимних условиях.

Производительность
системы

Наибольшее измеряемое расстояние при коэф. отражения 90% 800 м

Наибольшее измеряемое расстояние при коэф. отражения 20% 400 м

Наименьшее измеряемое расстояние 1,5 м

Максимальная скорость сканирования 500 000 изм./сек.

Точность / Повторяемость - 5 мм / 3 мм

Сектор сканирования 100°*360°

Уникальные технологии
RIEGL

Высокая точность и повторяемость измерения расстояний за счет оцифровки и обработки сигнала в режиме реального времени

Автоматическое определение визирных марок

Получение нескольких отражений одного сигнала от разных целей

Подключение к облачному хранилищу данных

Встроенная инерциальная система

Взамен электронного уровня и компаса, ограниченных по углам наклона и магнитным возмущениям, RIEGL VZ-400i получил встроенную полноценную инерциальную систему средней точности. Это позволяет определять угловые элементы ориентирования сканера в пространстве при любом положении сканера – вплоть до его переворота, а также определять смещения сканера от позиции к позиции даже в закрытых средах, где прием ГНСС-сигналов невозможен.
В сочетании с используемой RIEGL технологией MSA (Multi-station adjustment – автоматическое взаимное уравнивание множества сканпозиций) это позволяет сразу же после завершения съемки начать процесс взаимного уравнивания точек лазерных отражений, их позиционирования на поверхности Земли и подготовки к фильтрации и визуализации.